共有6个产品

• 电磁铁变场探针台霍尔测试系统 HSEM-06PS

  HSEM-06PS室温变场探针台霍尔测试系统可以放置最大4英寸的晶圆样品，采用多孔分区控制气体吸附固定，能提供可变的磁场环境，磁场大小±0.6T ,可安装6个探针臂。外部连接其他电测仪表可在室温下对芯片、晶圆和器件进行非破坏电学测试，比如不同磁场下电流、电压、电阻等电学信号等。

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• 多通道自动化霍尔测试系统 HSMC-10

  HSMC-10多通道霍尔测试系统能够为多电极圆柱型晶锭、D型晶锭和大型晶圆片提供一个变磁的环境。测试温度：室温或者77K液氮低温，矩阵开关实现测试电极之间自由切换、选择，适用于多电极样品，有0.1T ~ 1T宽范围磁场调节区间和精确、快速零磁场控制功能。

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• 电磁铁变温变场霍尔效应测试系统HSEM系列

  HSEM系列电磁铁霍尔效应测试系统由电磁铁、霍尔测试仪、控制器、样品变温选件等部分组成。有连续可变的磁场环境，可选±0.8T或±1.5T两种配置，有较丰富的温度选件，包含：室温、液氮单点、10K-400K闭循环低温选件、室温-1273K高温选件。

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• 室温探针台霍尔测试系统HSPM-05PS

  HSPM-05PS室温探针霍尔测试系统为最大8英寸待测样品、器件提供了一个垂直磁场环境。采用多孔分区控制气体吸附固定，能自动控制永磁铁的前后运动和N.S极翻转，并且能精准定位，磁场大小0.5T 。

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• 永磁铁变温霍尔测试系统 HSPM-05VT

  HSPM-05VT变温霍尔测试系统能样品提供一个85K到500K的连续变温、0.5T垂直磁场测试环境，可以测试变温下的霍尔参数。双层样品座设计，底部为光学样品座，通过增加四探针加四接线柱样品座盖板实现探针样品座功能。接线柱支持增加探针，改造为六探针样品座，能同时满足霍尔巴样品和范德堡样品的测试。

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• 室温永磁铁霍尔测试系统HSPM-07RT

  HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统磁场大小:0.7T；温度选件:室温， 77K（液氮单点选件），样品接触方式:四探针样品卡或焊接样品卡。 HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统由高精度霍尔测试仪、室温永磁铁夹具平台、测试电脑及软件组成，可在固定磁场下实现霍尔效应的测量，系统结构桌面式结构设计、体积小，测试效率高，是实验室快速检测和工厂质检的不二选择。系统有77K液氮单点选件，提供样品在77K低温下完成霍尔效应测量。

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